Простийпошук |
Розширенийпошук |
Покажчики
|
Професійний пошук |
Рубрикатор НБУВ |
Розподілений пошук |
Бази даних
Наукова періодика України - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
| Знайдено в інших БД: | Реферативна база даних (2) |
Список видань за алфавітом назв: Авторський покажчик Покажчик назв публікацій  |
Пошуковий запит: (<.>A=Дупак Б$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 2 Представлено документи з 1 до 2 |
|||
| 1. | 
Іванців Р. Д. Методи дослідження поверхні зразка за допомогою атомно-силового мікроскопу на основі кантелівера механічного типу [Електронний ресурс] / Р. Д. Іванців, Б. П. Дупак // Науковий вісник НЛТУ України. - 2013. - Вип. 23.16. - С. 144-148. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/nvnltu_2013_23 | ||
| 2. | 
Дупак Б. Аналіз модуляційного режиму в атомно-силовій мікроскопії на основі кантелівера механічного типу [Електронний ресурс] / Б. Дупак, Р. Іванців, П. Кособуцький // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Комп’ютерні науки та інформаційні технології. - 2013. - № 771. - С. 234-237. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VNULPKNIT_2013_771_35 Розглянуто та проаналізовано модуляційний режим під час сканування поверхні атомно-силовим мікроскопом на базі кантелівера механічного типу. Розвинено метод розрахунку сил Ван-дер-Ваальса для конфігурування взаємодії тіл. | ||
Попередній перегляд: 
Реферативна БД
 |
| Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів |
 Пам`ятка користувача |